GSM网络内存在的上行干扰测试和判断方法

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GSM系统存在的干扰

在GSM系统中存在内部干扰和外部干扰，而这两部份干扰又归结上行干扰和下行干扰，内部干扰主要是因为系统的频率规划不合理，以及设备自身硬件系统故障引起；外部干扰主要是受到系统外的不明信号源的影响，这些干扰的存在会严重影响网络的服务质量。本技术规范从几方面介绍了发现和解决GSM系统干扰的方法。

网络内部干扰网络内部干扰指的是在以下频段内的因频率规划不合理所产生的下行干扰，以及硬件故障及不良设备所造成的干扰。

EGSM+GSM900	880~915MHz 上行频率 925~960MHz 下行频率 双工间隔为45MHz，工作带宽为35MHz，载频间隔200kHz
GSM1800	1710-1785MHz 上行频率 1805-1880MHz 下行频率 双工间隔为95MHz，工作带宽为75MHz，载频间隔200kHz

不合理的频率规划

在网络规划的过程中，由于规划工具和人的因素配置了不合理的频点和错误的邻区关系，主要表现在下行路测的过程中存在DL_RxQuality过大，手机不能接入网络，通话过程话音质量差、掉话。

对于同频所造成的干扰，在性能统计和路测中都会有明显的表现，性能统计表现各项统计指标低，路测则可以发现存在明显的DL_RxQuality过大。从PM规划工具上对频率进行同频连线检查，如果存在同频一般都可以发现；但是对边界地区，由于外部区域的频率无法得到，为了能准确定位边际网中存在的干扰，可以对边际网存在同频的小区进行闭塞，同时将路测仪在出现DL_RxQuality大的地点进行跟踪测试，如果存在同频干扰问题闭塞后DL_RxQuality会变小，因此可通过修改本小区的频点，消除网络干扰。

不合理的工程规划引入的越区干扰设备硬件故障所造成的干扰

设备故障可分为基站故障和廷伸设备故障。

基站的无线故障主要是由于上行链路单元器件失效所导致，判断由于上行链路器失效一般采取以下步骤；

1）
把一个TRX的两路输入闭塞
2）
观察上行干扰带，如果为0证明TRM本身没有带来上行干扰
3）
将TRX的两路激励不连功放输入，观察上行干扰带，如果为0证明不存在外部干扰；
4）
如果在不对功放施激励状况下仍存在较大的上行干扰，则可以断开机顶馈缆，再观察上行干扰带，如果仍然较大，则问题基本可以定位在分路器单元。
5）
如果在上一步中断开机顶馈缆的前题下上行干扰消失，则上行干扰问题在设备外部。
6）
为了分析上行干扰的来源可以采用SITEMASTER中自带的扫频功能或采用TEKTRONIX的Y350C所带的YBT250干扰测试模块对网络进行测试，具体测试方法见下节。
外部干扰分析外部干扰就是不是由设备自身故障和频率规划不合理等原因引起的其它干扰，这种干扰在不通过仪器是很难发现的，在下边我们将介绍采用两种不同仪器来分析和发现干扰的方法。
通过SITEMASTER确定外部干扰法

目前我们所拥有的SITEMASTER自带的扫频仪由于灵敏度低，所以很难直接用于干扰分析测试，而目前这家公司生产的SITEMASTER前端增加了一个前置低放，提高了其扫频仪分析干扰的能力，重新购置会增加成本。为了能将现有的这类仪器用于干扰分析，将SITEMASTER的扫频输入与分路器的输出相连（如图1所示）。

图1
SiteMaster与分路器的连接示意图

具体的SM的使用和操作请见附带的手册。

连接测试过程中应将本站的连接功放的下行激励去激劢！

为测试上行干扰，可以将SM（以下sitemaster简称为SM）的扫频带宽调到890～915MHz，观察在整个上行频段内底板噪声，如果在某一频段有持续的上行电平存在，应仔细分析是网络的底噪大还是存在上行干扰。如下图所示在近20MHz的带宽内存在持续的强电平，可以肯定存在严重的上行干扰。

通过TEK公司的频谱仪NetTek Analyzer确定外部干扰的存在

借助TEK公司的频谱仪NetTek Analyzer对GSM900M的上行频段进行上行干扰分析，TEK频谱分析仪，有多种连接方式进行测试分析，一是利用其自带的测试天线，二是利用前述的接入分路器输出口来获得干扰信息。

下图就是一次干扰分析所测试的输出图，下图可以看到存在强电平干扰，但问题是不是持继的需要对此信号不间断的观察。

频谱仪没有能持继时间记录的能力，但TEK的这类仪表提供了一个输出功能，见下图：

从这幅图中可以清楚的看出在频率909.780处存在持续的上行强度为-73dBm左右的上行信号，由于这类TEK仪表具有时间频率信号强度三维记录功能，所以对于确定问题带来了便利，图中上下长长的红色粗线条正是代表着时间持续时长、信号电平强度、所在频点。