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标题: [求助]:关于OTDR方面的问题,请帮助  [查看完整版帖子] [打印本页]

时间:  2008-9-17 21:25
作者: liujy0220     标题: [求助]:关于OTDR方面的问题,请帮助

最近接触到光缆,用到了OTDR,有几个不明白的地方,还请各位解释一下,或者介绍哪方面的书看一下,不胜感激!!!!!!

1、动态范围是个什么概念,45dB

2、衰减盲区为10m,事件盲区为3m,是什么意思,如何产生的,原因?

还请各位多多指教,谢谢
时间:  2008-9-18 11:35
作者: 服务生

一个简单的解答:
1。动态范围是指反射回来光的范围,即最近反射回来的光和最远反射回来光的检测度。超过这个范围的就是无效结果。这个指标主要是表明最大检测距离。
2。OTDR是通过检测反射回来光的强度来定位故障点的,它可以发现很多熔接点的反射(断点是全反射)。所以当没有故障点时,它指示中10M内的数据不可靠;当有故障点时,可以缩小到3M(超过3M的全反射点能定位)。
时间:  2008-9-18 18:38
作者: 孙小美     标题: otdr的知识

1、动态范围:背向散射电平初始点(也就是开始反射回来的电平值)至噪声电平的差就是动态范围。包括噪声峰值及信噪比=1两个定义的动态范围。表明:如果实际反射的电平被噪声淹没了,就无法判断是反射还是噪声。动态范围决定了OTDR能“看”多远的光纤和光纤上的特征点
2、盲区也叫2点分辨率:在连续2个事件上,由于事件将导致电平有较大的变化特别时电平升高较大(反射回来的),将导致在短时间内该电平是逐步下降(实际是应为仪器仪表的反映造成的),如果第2个事件距离较近,再次出现较大的电平,这两个电平将部分重合,这样将无法分辨出是一个事件还是二个事件。也就是说第二个事件在第一个事件的盲区内。
你说的衰减盲区和时间盲区是基本相同的事情不同的表现方法。衰减盲区是能够分辨两个事件的前提下,在无事件时应该电平值+0.5db的位置的最小距离。而事件盲区是2个事件实际电平值从最大直至衰减到最高值-1.5db的位置的中间位置的距离。
3、二楼说的有以下问题:断点是全反射,全反射肯定不对。如果是完全平面的话将有较大的光反射回来,一部分要折射出去。如果为完全不规则的话,可能反射非常小,近似瑞利反射,与光纤无事件地方一样,然后就直接衰减下去结束。
如果想要OTDR的PPT的资料,留EMAIL,我发给你。简单的PPT,是安捷伦的E6000的。其它的要自己去琢磨。

[ 本帖最后由 孙小美 于 2008-9-19 08:04 编辑 ]
时间:  2008-9-19 10:48
作者: leonex

请给我发一份PPT好吗?,OTDR一直在用,但是对机理和很多功能不是很会用。
leonex@163.com 谢谢
时间:  2008-9-19 14:45
作者: kokpk2009

也能给我发一份吗?想更深入的学习。
zhengkan2001@yahoo.com.cn 非常感谢
时间:  2008-9-19 16:05
作者: freelh

也给我发一份啊 谢谢了 sdh@e165.com
时间:  2008-9-19 23:54
作者: mfmco2

3楼很不错。
时间:  2008-9-21 12:01
作者: sougate


时间:  2008-9-21 15:08
作者: 孙小美

直接附件就行了.....呵呵,我先前一直没有发现
时间:  2008-9-21 20:19
作者: liujy0220     标题: 回复 9# 的帖子

今天晚上刚出差回来,非常感谢你给予的帮助
我用的是日本的AQ7250,,说明书太简单了,没有什么内容的,有个比较详细的,还是英文版的,看不懂的,,,希望有机会多交流
时间:  2008-9-22 10:42
作者: yjfncu2000

前面的兄弟已经说的很详细了!不错
时间:  2008-9-22 11:09
作者: cortexer


时间:  2008-9-28 20:32
作者: hjj5376

非常不错的资料谢谢了
时间:  2008-10-8 23:30
作者: 山峰     标题: 为什么EXFO 测试的曲线长度是负值?

我刚用EXFO 光时域反射仪,不是很熟悉。最近测试一条备纤时,设置是一样的但有一条曲线的测试长度显示负值,从坐标来说:测试显示的曲线在坐标轴0的左侧,能帮忙解释一下吗?本人的邮箱是:gaduo87207@163.com

[ 本帖最后由 山峰 于 2008-10-8 23:32 编辑 ]
时间:  2008-10-20 15:31
作者: 青建客

谢谢,在下
时间:  2008-10-20 18:45
作者: orangege

很好
时间:  2008-10-24 14:03
作者: bingwei-mm

原帖由 孙小美 于 2008-9-21 15:08 发表
直接附件就行了.....呵呵,我先前一直没有发现

平时只是使用,但对于原理资料找了很久都没找到,谢谢各位了。
时间:  2008-11-17 16:27
作者: fpowerhb

不错!!
时间:  2008-11-21 13:52
作者: ilovethisteam

我们还在用8147HP
时间:  2008-12-26 09:42
作者: hawk_wan

原帖由 孙小美 于 2008-9-18 18:38 发表
1、动态范围:背向散射电平初始点(也就是开始反射回来的电平值)至噪声电平的差就是动态范围。包括噪声峰值及信噪比=1两个定义的动态范围。表明:如果实际反射的电平被噪声淹没了,就无法判断是反射还是噪声。动态范 ...

对盲区的描述有问题。盲区一定是反射引起的,事件盲区是能够分辨出下一个反射事件的距离,反射峰下降1.5dB;衰减盲区是能够分辨出下一个非反射事件(如熔接点)的距离,距离平滑曲线垂直高度0.5dB的距离。定义方法来自于贝尔实验室。
时间:  2008-12-26 10:38
作者: sxyjctt

初始背向散射电平与噪声低电平的DB差值被定义为OTDR的动态范围。其中,背向散射电平初始点是入射光信号的电平值,而噪声低电平为背向散射信号为不可见信号。动态范围的大小决定OTDR可测光纤的距离。当背向散射信号的电平低于OTDR噪声时,它就成为不可见信号。
我们将诸如活动连接器、机械接头等特征点产生反射引起的OTDR接收端饱和而带来的一系列“盲点”称为盲区。光纤中的盲区分为事件盲区和衰减盲区两种:由于介入活动连接器而引起反射峰,从反射峰的起始点到接收器饱和峰值之间的长度距离,被称为事件盲区;光纤中由于介入活动连接器引起反射峰,从反射峰的起始点到可识别其他事件点之间的距离,被称为衰减盲区。对于OTDR来说,盲区越小越好。盲区会随着脉冲宽的宽度的增加而增大,增加脉冲宽度虽然增加了测量长度,但也增大了测量盲区,所以,我们在测试光纤时,对OTDR附件的光纤和相邻事件点的测量要使用窄脉冲,而对光纤远端进行测量时要使用宽脉冲。
时间:  2009-6-23 16:22
作者: 阿尼陀佛

谢谢
时间:  2009-12-13 01:44
作者: 张世镇

慢慢学习~~
时间:  2010-4-9 16:26
作者: sxwbhxd79

我要推荐 OTDR操作攻略
OTDR操作攻略
1.OTDR的使用
    用OTDR进行光纤测量可分为三步:参数设置、数据获取和曲线分析。人工设置测量参数包括:  
        
      (1)波长选择(λ):  
    因不同的波长对应不同的光线特性(包括衰减、微弯等),测试波长一般遵循与系统传输威尼斯人官方网站波长相对应的原则,即系统开放1550波长,则测试波长为1550nm。  
      (2)脉宽(Pulse Width):  
    脉宽越长,动态测量范围越大,测量距离更长,但在OTDR曲线波形中产生盲区更大;短脉冲注入光平低,但可减小盲区。脉宽周期通常以ns来表示。  
      (3)测量范围(Range):  
    OTDR测量范围是指OTDR获取数据取样的最大距离,此参数的选择决定了取样分辨率的大小。最佳测量范围为待测光纤长度1.5~2倍距离之间。  
      (4)平均时间:  
    由于后向散射光信号极其微弱,一般采用统计平均的方法来提高信噪比,平均时间越长,信噪比越高。例如,3min的获得取将比1min的获得取提高0.8dB的动态。但超过10min的获得取时间对信噪比的改善并不大。一般平均时间不超过3min。  
      (5)光纤参数:  
    光纤参数的设置包括折射率n和后向散射系数n和后向散射系数η的设置。折射率参数与距离测量有关,后向散射系数则影响反射与回波损耗的测量结果。这两个参数通常由光纤生产厂家给出。  
    参数设置好后,OTDR即可发送光脉冲并接收由光纤链路散射和反射回来的光,对光电探测器的输出取样,得到OTDR曲线,对曲线进行分析即可了解光纤质量。  
2.经验与技巧  
     (1)光纤质量的简单判别:  
    正常情况下,OTDR测试的光线曲线主体(单盘或几盘光缆)斜率基本一致,若某一段斜率较大,则表明此段衰减较大;若曲线主体为不规则形状,斜率起伏较大,弯曲或呈弧状,则表明光纤质量严重劣化,不符合威尼斯人官方网站要求。  
     (2)波长的选择和单双向测试:  
    1550波长测试距离更远,1550nm比1310nm光纤对弯曲更敏感,1550nm比1310nm单位长度衰减更小、1310nm比1550nm测的熔接或连接器损耗更高。在实际的光缆维护工作中一般对两种波长都进行测试、比较。对于正增益现象和超过距离线路均须进行双向测试分析计算,才能获得良好的测试结论。  
     (3)接头清洁:  
    光纤活接头接入OTDR前,必须认真清洗,包括OTDR的输出接头和被测活接头,否则插入损耗太大、测量不可靠、曲线多噪音甚至使测量不能进行,它还可能损坏OTDR。避免用酒精以外的其它清洗剂或折射率匹配液,因为它们可使光纤连接器内粘合剂溶解。  
     (4)折射率与散射系数的校正:
     就光纤长度测量而言,折射系数每0.01的偏差会引起7m/km之多的误差,对于较长的光线段,应采用光缆制造商提供的折射率值。  
      (5)鬼影的识别与处理:  
      在OTDR曲线上的尖峰有时是由于离入射端较近且强的反射引起的回音,这种尖峰被称之为鬼影。 识别鬼影:曲线上鬼影处未引起明显损耗;沿曲线鬼影与始端的距离是强反射事件与始端距离的倍数,成对称状。消除鬼影:选择短脉冲宽度、在强反射前端(如OTDR输出端)中增加衰减。若引起鬼影的事件位于光纤终结,可"打小弯"以衰减反射回始端的光。  
       (6)正增益现象处理:  
    在OTDR曲线上可能会产生正增益现象。正增益是由于在熔接点之后的光纤比熔接点之前的光纤产生更多的后向散光而形成的。事实上,光纤在这一熔接点上是熔接损耗的。常出现在不同模场直径或不同后向散射系数的光纤的熔接过程中,因此,需要在两个方向测量并对结果取平均作为该熔接损耗。在实际的光缆维护中,也可采用≤0.08dB即为合格的简单原则。  
       (7)附加光纤的使用:  
    附加光纤是一段用于连接OTDR与待测光纤、长300~2000m的光纤,其主要作用为:前端盲区处理和终端连接器插入测量。  
    一般来说,OTDR与待测光纤间的连接器引起的盲区最大。在光纤实际测量中,在OTDR与待测光纤间加接一段过渡光纤,使前端盲区落在过渡光纤内,而待测光纤始端落在OTDR曲线的线性稳定区。光纤系统始端连接器插入损耗可通过OTDR加一段过渡光纤来测量。如要测量首、尾两端连接器的插入损耗,可在每端都加一过渡光纤。  
3.测试误差的主要因素
  1)OTDR测试仪表存在的固有偏差
    由OTDR的测试原理可知,它是按一定的周期向被测光纤发送光脉冲,再按一定的速率将来自光纤的背向散射信号抽样、量化、编码后,存储并显示出来。OTDR仪表本身由于抽样间隔而存在误差,这种固有偏差主要反映在距离分辩率上。OTDR的距离分辩率正比于抽样频率。
   
  2)测试仪表操作不当产生的误差
    在光缆故障定位测试时,OTDR仪表使用的正确性与障碍测试的准确性直接相关,仪表参数设定和准确性、仪表量程范围的选择不当或光标设置不准等都将导致测试结果的误差。
    (1) 设定仪表的折射率偏差产生的误差
      不同类型和厂家的光纤的折射率是不同的。使用OTDR测试光纤长度时,必须先进行仪表参数设定,折射率的设定就是其中之一。当几段光缆的折射率不同时可采用分段设置的方法,以减少因折射率设置误差而造成的测试误差。
    (2) 量程范围选择不当
      OTDR仪表测试距离分辩率为1米时,它是指图形放大到水平刻度为25米/格时才能实现。仪表设计是以光标每移动25步为1满格。在这种情况下,光标每移动一步,即表示移动1米的距离,所以读出分辩率为1米。如果水平刻度选择2公里/每格,则光标每移动一步,距离就会偏移80米。由此可见,测试时选择的量程范围越大,测试结果的偏差就越大。
    (3) 脉冲宽度选择不当
      在脉冲幅度相同的条件下,脉冲宽度越大,脉冲能量就越大,此时OTDR的动态范围也越大,相应盲区也就大。
    (4) 平均化处理时间选择不当
      OTDR测试曲线是将每次输出脉冲后的反射信号采样,并把多次采样做平均处理以消除一些随机事件,平均化时间越长,噪声电平越接近最小值,动态范围就越大。平均化时间越长,测试精度越高,但达到一定程度时精度不再提高。为了提高测试速度,缩短整体测试时间,一般测试时间可在0.5~3分钟内选择。
    (5) 光标位置放置不当
      光纤活动连接器、机械接头和光纤中的断裂都会引起损耗和反射,光纤末端的破裂端面由于末端端面的不规则性会产生各种菲涅尔反射峰或者不产生菲涅尔反射。如果光标设置不够准确,也会产生一定误差。

4.接头损耗的标准数值
光纤接续标准多年来一直是一个有争议的问题,部颁YDJ44-89《澳门威尼斯人app下载网光纤数字传输系统施工及验收暂行规定》简称《暂规》,对光纤接续损耗的测量方法做了规定,但没有规定明确的标准。原信产部郑州设计院在中国澳门威尼斯人app下载南九试验段以后的工程中提出了中继段单纤平均接续损耗0.08dB/个的设计标准,以后的干线工程均沿用。
ITU有关接续介入损耗的原文如下。
本试验使用于一个竣工的光纤接头, 用以度量接头质量。
应按照IEC 1073-1进行试验。测量可在实验室或现场进行。实验室用剪回法较好,现场可用双向OTDR法。介入损耗的典型值可能随应用场合和(或)所用方法而变化。最小的接头损耗典型值≤0.1dB。在某些场合中,介入损耗典型值≤0.5dB是可能接受的。有许多熔接机和机械接续装置在制作接头后可以估算接头损耗值。 某些主管部门和私营运行机构在现场接续安装时采用这些估算值,并且在全部线路施工完成后,再用OTDR对线路全程进行复测。在现场安装时,也可用其它一些方法来估算接头损耗值, 例如采用夹上去的功率计和本地注入检测的方法。  
  (1)该建议是基于单纤接头损耗的可接受值≤0.5dB,平均值没有规定的情况下而言的。
  从目前的熔接机情况看, 熔接机所显示的数据配合观察光纤接头断面情况, 能够粗略估计光纤接续点损耗的状况, 但不能精确到目前我国所要求的光纤接续损耗指标的数量级。我们认为,这些熔接机的设计目的和依据是基于ITU建议的。
  (2)目前的熔接机接续是通过对光纤X轴和Y轴方向的错位调整,在轴心错位最小时进行熔接的,这种能调整轴心的方法称为纤芯直视法, 这种方法不同于功率检测法,现场是无法知道接头损耗确切数值的。但是在整个调整轴心和熔接接续过程中, 通过摄像机把探测到所熔接纤芯状态的信息送到熔接机的专用程序中,可以计算出接续后的损耗值。 但它只能说明光纤轴心对准的程度,并不含有光纤本身的固有特性所影响的损耗。而OTDR的测试方法是后向散射法,它包含有光纤参数的不同形成反射的损耗。
  比较上述两种测试原理,两者有很大区别。通过实践证明,两种方法测出数据一致性也较差,通过最近几年对干线工程接续测试发现,很多情况下熔接机显示损耗很小(小于0.05dB)甚至为零,但OTDR测试则大于0.08dB,且没发现有对应的规律。
日本的接头损耗标准(NTT光缆施工验收规程)最小值小于0.9dB,无平均值要求,只有中继段总衰减要求,只要满足,就能开通设计要求的或将来要增加的设备,在接续操作方面则与ITU建议一致。美国、欧洲诸国也都采取了大致与ITU建议一致的做法。
事实上,影响光缆安全的主要是机械损伤,光纤接续损耗大一点并不会影响接续强度,因此我们有时在验收测试中发现,有些点数值确实偏大,大约有1%左右的接头回超标准,并且在多次接续后仍无法降低.在这种情况下,也是可以判断合格的.有的时候会按照中级段总衰减来要求,从而验收合格。
时间:  2010-4-10 09:27
作者: qkxue7

前来学习,感谢
时间:  2011-1-8 20:12
作者: wanghs28     标题: 回复 1# 的帖子

:) 好
时间:  2011-6-17 15:04
作者: william1978

好資料,多謝了
时间:  2011-7-28 17:53
作者: wuxiwantong

谢谢大家无私的付出!
时间:  2011-8-11 12:17
作者: 网络维护     标题: 负值

负值的问题是不是因为光纤中有光源,反射回来的光强于发射出去的光 造成显负值
时间:  2011-11-23 19:57
作者: zhaosl1988

看看
时间:  2012-5-17 14:38
作者: 韩书

感谢分享找了很久
时间:  2016-2-5 16:54
作者: octsmart

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